咨詢熱線：
0769-88030227
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設(shè)備：AFM粗糙度測試儀Dimension ICON
廠商：德國 Bruker
用途：通過探測微細(xì)針尖和樣品原子團(tuán)之間相互作用力的變化來檢測樣品表面的高低起伏，具有原子級分辨率的表面形貌和表面特性分析。檢測固體材料粗糙度和局部形貌
技術(shù)指標(biāo)：
l 最大掃描范圍：10umX10um，最小值：10nmX10nm
l 樣品臺尺寸：φ35mm
l 表面粗糙度：最大值為1μm
l 測試模塊：形貌測試、導(dǎo)電性能測試、靜電力測試、表面電勢測試、磁學(xué)測試、納米力學(xué)測試
地址：廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓
電話：0769-33882377
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